T/CAMS 186-2024-二维材料光电探测器性能参数测试方法-国家数字标准馆

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二维材料光电探测器性能参数测试方法

发布日期： 2024-03-07

实施日期： 2024-04-01

范围:本文件适用于二维材料光电探测器（以下简称“光电探测器”）的性能测试，也可为其它探测器的性能测试提供参考;
主要技术内容:本文件规定了二维材料光电探测器性能参数测试总则及测试方法

分类信息

发布单位或类别：中国-团体标准

CCS分类： L55电子元器件与信息技术 - 微电路 - 微电路综合

ICS分类： 31.200电子学 - 集成电路、微电子学

关联关系

研制信息

归口单位：中国机械工业标准化技术协会

起草单位：中国科学院上海技术物理研究所、机械工业仪器仪表综合技术经济研究所、云南电力技术有限责任公司、中国电子科技集团公司第四十四研究所、中国能源建设股份有限公司、云南电网有限责任公司电力科学研究院、北方夜视科技研究院集团有限公司、中央民族大学、北京智芯微电子科技有限公司、北京美尔斯通科技发展股份有限公司、昆明物理研究所、北京理工大学、北京印刷学院

起草人：胡伟达、王芳、卢铁林、张永刚、尹俊、代福兴、姜睿琪、王进、樊子天、岳磊、谢润章、王振、汪朝敏、于虹、赵俊、杨玉平、李小娟、米旺、陈信霖、孔令琴、赵跃进、柳晓菁

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