首页 馆藏资源 舆情信息 标准服务 科研活动 关于我们
现行 JJF 1895-2021
到馆阅读
收藏跟踪
购买正版
半导体器件直流和低频参数测试设备校准规范 Calibration Specification for Semiconductor Devices DC and Low Frequency Parameters Test Equipments
发布日期: 2021-02-23
实施日期: 2021-08-23
本规范适用于半导体器件直流和低频参数测试设备的校准
分类信息
发布单位或类别: 中国-国家计量技术规范
关联关系
研制信息
相似标准/计划/法规