JJF 1682-2017-光栅式测微仪校准规范-国家数字标准馆

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光栅式测微仪校准规范 Calibration Specification for Grating Micrometers

发布日期： 2017-11-20

实施日期： 2018-05-20

                本规范适用于0.1μm级行程为0～10mm、O.2μm级行程为0～25mm、O.5μm级行程为 0～50mm、1μm级～10μm级行程为0～100mm的光栅式测微仪校准

分类信息

发布单位或类别：中国-国家计量技术规范

关联关系

研制信息

归口单位：全国几何量工程参量计量技术委员会

起草单位：中国科学院光电技术研究所、中国测试技术研究院

起草人：曹学东、匡龙、冉庆

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