现行

GB/T 22319.7-2015

石英晶体元件参数的测量　第7部分：石英晶体元件活性跳变的测量
Measurement of quartz crystal unit parameters—Part 7:Measurement of activity dips of quartz crystal units

2015-06-02

现行

BS EN 60444-2-1997

Measurement of quartz crystal unit parameters-Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units
石英晶体单元参数的测量 相位偏移法测量石英晶体元件的动态电容

1993-09-15

现行

IEC 60444-7-2004

Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 7: Measurement of activity and frequency dips of quartz crystal units
石英晶体单元参数的测量.第7部分:石英晶体单元的活性和频率下降的测量

2004-04-05

现行

KS C IEC 60444-7

수정진동자의 매개변수 측정 ― 제7부: 수정진동자의 활성도 및 주파수 강하 측정
的石英晶体元件参数的测量 - 第7部分:石英晶体元件的活性和频率下降的测量

2016-12-29

现行

KS C IEC 60444-7(2021 Confirm)

수정진동자의 매개변수 측정 ― 제7부: 수정진동자의 활성도 및 주파수 강하 측정
石英晶体元件参数测量第7部分:石英晶体元件活度和频率倾角的测量

2016-12-29

现行

GB/T 22319.8-2008

石英晶体元件参数的测量　第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具
Measurement of quartz crystal unit parameters—Part 8:Test fixture for surface mounted quartz crystal units

2008-08-06

现行

KS C IEC 60444-8

수정진동자의 변수 측정 ― 제8부: 표면실장 수정진동자용 시험 치구
的石英晶体元件参数的测量 - 第8部分:表面安装石英晶体元件测试夹具

2016-12-29

现行

KS C IEC 60444-8(2021 Confirm)

수정진동자의 변수 측정 ― 제8부: 표면실장 수정진동자용 시험 치구
石英晶体元件参数测量第8部分:表面安装石英晶体元件试验夹具

2016-12-29

现行

IEC 60444-8-2016

Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8 : Test fixture for surface mounted quartz crystal units
石英晶体单位参数测量第8部分:表面贴装石英晶体单元的测试夹具

2016-12-15

现行

GB/T 22319.9-2018

石英晶体元件参数的测量　第9部分：石英晶体元件寄生谐振的测量
Measurement of quartz crystal unit parameters—Part 9:Measurement of spurious resonances of piezoelectric crystal units

2018-03-15

现行

IEC 60444-9-2007

Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 9: Measurement of spurious resonances of piezoelectric crystal units
石英晶体单元参数的测量.第9部分:压电晶体单元寄生谐振的测量

2007-02-20

现行

KS C IEC 60444-9

수정진동자의 매개변수 측정 ― 제9부: 압전 수정진동자의 의사 공진 측정
的石英晶体元件参数的测量 - 第9部分:压电晶体单元的寄生共振的测定

2016-12-29

现行

KS C IEC 60444-9(2021 Confirm)

수정진동자의 매개변수 측정 ― 제9부: 압전 수정진동자의 의사 공진 측정
石英晶体元件参数测量第9部分:压电晶体元件寄生谐振的测量

2016-12-29

现行

KS C IEC 60444-2(2017 Confirm)

파이회로에서 영상법에의한 수정유니트 변수측정 제2부:수정유니트의 동적용량 측정용 위상분기법
用p网络零相位法测量石英晶体元件参数第2部分:测量石英晶体元件动电容的相位偏移法

2002-12-30

现行

KS C IEC 60444-2(2022 Confirm)

파이회로에서 영상법에의한 수정유니트 변수측정 제2부:수정유니트의 동적용량 측정용 위상분기법
用p网络中的零相位技术测量石英晶体单元参数第2部分:石英晶体单元运动电容测量的相位偏移法

2002-12-30

现行

IEC 60444-2-1980

Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network. Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units
在pi网络中通过零相位技术测量石英晶体单位参数 第2部分:用于测量石英晶体单元的运动电容的相位偏移方法

1980-01-01

现行

SJ/Z 9154.2-1987

用π型网络零相位法测量石英晶体元件参数 第二部分：测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法
Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a π-network--Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units

1988-01-06

现行

BS EN 60444-1-1997

Measurement of quartz crystal unit parameters-Basic method for the measurement of resonance frequency and resonance resistance of quartz crystal units by zero phase technique in a π-network
石英晶体单元参数的测量

2000-08-15

现行

IEC 60444-6-2021 RLV

Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)
石英晶体元件参数的测量第6部分:驱动电平相关性（DLD）的测量

2021-09-01

现行

IEC 60444-6-2021

Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)
石英晶体元件参数的测量.第6部分:驱动电平相关性（DLD）的测量

2021-09-01