GB/T 4377-2018-半导体集成电路电压调整器测试方法-国家数字标准馆

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半导体集成电路电压调整器测试方法 Semiconductor integrated circuits—Measuring method of voltage regulators

发布日期： 2018-03-15

实施日期： 2018-08-01

本标准规定了电压调整器(以下称为器件）参数测试方法。本标准适用于半导体集成电路领域中电压调整器参数的测试

分类信息

发布单位或类别：中国-国家标准

CCS分类： L56电子元器件与信息技术 - 微电路 - 半导体集成电路

ICS分类： 31.200电子学 - 集成电路、微电子学

关联关系

研制信息

归口单位：全国集成电路标准化技术委员会

起草单位：圣邦微电子（北京）股份有限公司、中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、成都振芯科技股份有限公司、北京宇翔电子有限公司

起草人：王鸿儒、袁莹莹、邹臣、朱华、张宝华、张冰、陈志培、罗彬

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