首页 馆藏资源 舆情信息 标准服务 科研活动 关于我们
现行 ГОСТ 18986.8-73
到馆阅读
收藏跟踪
购买正版
Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления 半导体二极管 逆向恢复时间测量方法
实施日期: 1975-01-01
本标准适用于半导体和脉冲整流二极管和设置方法,用于测量反向恢复时间
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды и устанавливает метод измерения времени обратного восстановления
分类信息
关联关系
研制信息
相似标准/计划/法规
现行
JEDEC EIA 318-B
MEASUREMENT OF REVERSE RECOVERY TIME FOR SEMICONDUCTOR SIGNAL DIODES
半导体信号二极管反向恢复时间的测量
1996-07-01
现行
GOST 18986.9-1973
Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления
半导体二极管 测量脉冲直流电压和脉冲恢复时间的方法
现行
GOST 18986.6-1973
Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления
半导体二极管 测量回收费用的方法
现行
GOST 18986.1-1973
Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного обратного тока
半导体二极管 直接反向电流测量方法
现行
GOST 18986.5-1973
Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения
半导体二极管 测量过渡时间的方法
现行
GOST 18986.7-1973
Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда
半导体二极管 寿命测量方法
现行
GOST 18986.20-1977
Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим
半导体二极管 参考齐纳二极管 预热时间的测量方法
现行
SJ/T 2658.3-2015
半导体红外发射二极管测量方法 第3部分:反向电压和反向电流
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 3:Reverse voltage and reverse current
2015-10-10
现行
SJ/T 2658.11-2015
半导体红外发射二极管测量方法 第11部分:响应时间
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 11:Response time
2015-10-10
现行
GOST 19834.5-1980
Диоды полупроводниковые инфракрасные излучающие. Метод измерения временных параметров импульса излучения
半导体发射红外二极管 辐射脉冲切换时间测量方法
现行
GOST 19656.9-1979
Диоды полупроводниковые СВЧ параметрические и умножительные. Методы измерения постоянной времени и предельной частоты
半导体微波可变电抗器和倍增二极管 测量时间常数和限制频率的方法