SJ/T 11703-2018-数字微电子器件封装的串扰特性测试方法-国家数字标准馆

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数字微电子器件封装的串扰特性测试方法 Crosstalk test method for digital microelectronic device packages

发布日期： 2018-02-09

实施日期： 2018-04-01

本标准规定了在数字微电子器件封装引出端之间，测试宽带数字信号和噪声交叉耦合水平的方法。
本标准适用于数字微电子器件封装。当驱动和负载阻抗己知时，适用于多种逻辑系列产品

分类信息

发布单位或类别：中国-行业标准-电子

CCS分类： L55电子元器件与信息技术 - 微电路 - 微电路综合

ICS分类： 31.200电子学 - 集成电路、微电子学

关联关系

研制信息

归口单位：全国集成电路标准化分技术委员会

起草单位：中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第十三研究所、清华大学、中国电子科技集团公司第五十八研究所

起草人：王琪、张崤君、贾松良、丁荣峥

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