首页 馆藏资源 舆情信息 标准服务 科研活动 关于我们
现行 ГОСТ Р ИСО 11095-2007
到馆提醒
收藏跟踪
购买正版
Статистические методы. Линейная калибровка с использованием образцов сравнения 统计方法 使用参考材料的线性校准
实施日期: 2008-09-01
本标准:    一)建立测量系统的,并保持在统计控制系统校准的一般原理;    b)设置的基本方法:     - 测量系统的校准的约测量结果的可变性的假设的基础上的线性函数的评价, - 检查线性校准函数和离散度的假设下,     - 通过使用所述校准函数而获得该值转换值的基础上,新的未知量的值的评价;    c)中建立的控制校准功能的方法,以:     - 定义重新标定,     - 估算的使用校准函数的测量的不确定性;    D)两种可供选择的集(对于特定的应用程序主)方法;    E)给出了使用的已建立的方法的实例
Настоящий стандарт: а) устанавливает общие принципы калибровки измерительной системы и поддержания этой системы в статистически управляемом состоянии; b) устанавливает основной метод: - оценки линейной функции калибровки измерительной системы на основе предположений относительно изменчивости результатов измерений, - проверки предположений о линейности функции калибровки и о дисперсии результатов измерений, - оценки значения новой неизвестной величины на основе преобразования значений этой величины, полученных с использованием функции калибровки; с) устанавливает методы контроля функции калибровки в целях: - определения необходимости повторной калибровки, - оценки неопределенности результатов измерений с использованием функции калибровки; d) устанавливает два альтернативных (к основному) метода для особых условий применения; е) приводит примеры применения установленных методов
分类信息
关联关系
研制信息
相似标准/计划/法规
现行
BS ISO 11095-1996
Linear calibration using reference materials
使用标准物质进行线性校准
1996-12-15
现行
KS Q ISO 11095(2022 Confirm)
표준물질을 사용한 선형교정
使用参考材料进行线性校准
2012-12-28
现行
KS Q ISO 11095(2017 Confirm)
표준물질을 사용한 선형교정
使用参考材料的线性校准
2012-12-28
现行
GB/T 22554-2010
基于标准样品的线性校准
Linear calibration using reference materials
2010-09-02
现行
ISO 11095-1996
Linear calibration using reference materials
使用参考材料的线性校准
1996-02-08
现行
DIN ISO 11095
Linear calibration using reference materials (ISO 11095:1996); Text German and English
使用标准物质进行线性校准(ISO 11095-1996);德语和英语文本
2008-04-01
现行
ISO 29301-2023
Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures
微束分析分析分析电子显微镜用周期结构参考材料校准图像放大率的方法
2023-10-16
现行
GB/T 34002-2017
微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法
Microbeam analysis—Analytical transmission electron microscopy—Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures
2017-07-12
现行
BS ISO 23812-2009
Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Method for depth calibration for silicon using multiple delta-layer reference materials
表面化学分析 二次离子质谱法 用多δ层标准物质对硅进行深度校准的方法
2009-05-31
现行
ISO 23812-2009
Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Method for depth calibration for silicon using multiple delta-layer reference materials
表面化学分析——二次离子质谱法——使用多δ层标准物质的硅深度校准方法
2009-04-08
现行
BS 08/30138809 DC
BS ISO 23812. Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Method for depth calibration for silicon using multiple delta-layer reference materials
BS ISO 23812 表面化学分析 二次离子质谱法 用多δ层标准物质对硅进行深度校准的方法
2008-02-19