GB/T 27760-2011-利用Si（111）晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法-国家数字标准馆

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利用Si（111）晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法 Test method for calibrating the z-magnification of an atomic force microscope at subnanometer displacement levels using si (111) monatomic steps

发布日期： 2011-12-30

实施日期： 2012-05-01

分类信息

发布单位或类别：中国-国家标准

CCS分类： N04仪器、仪表 - 仪器、仪表综合 - 基础标准与通用方法

ICS分类： 19.020试验 - 试验条件和规程综合

关联关系

研制信息

归口单位：全国纳米技术标准化技术委员会

起草单位：国家纳米科学中心

起草人：朱晓阳、杨延莲、贺蒙、高洁

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