MIL MIL-DTL-55302/30B Notice 3-Reinstatement-连接器、印刷电路组件和附件:测试探针损坏电阻测试探针夹具（无S/S文件）-国家数字标准馆

现行 MIL MIL-DTL-55302/30B Notice 3-Reinstatement

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Connectors, Printed Circuit Subassembly and Accessories: Test Probe Fixture for Resistance to Test Probe Damage (No S/S Document) 连接器、印刷电路组件和附件:测试探针损坏电阻测试探针夹具（无S/S文件）

发布日期： 2017-07-10

分类信息

发布单位或类别：美国-美国军事规范和标准

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研制信息

相似标准/计划/法规

现行

MIL MIL-DTL-55302/30B

CONNECTORS, PRINTED CIRCUIT SUBASSEMBLY AND ACCESSORIES: TEST PROBE FIXTURE FOR RESISTANCE TO TEST PROBE DAMAGE (SUPERSEDING MIL-C-55302/30A)
连接器、印刷电路组件和附件:耐测试探针损坏的测试探针夹具（取代MIL-C-55302/30A）

2003-12-05

现行

MIL MIL-DTL-55302/29B Notice 2-Validation 2

Connectors, Printed Circuit Subassembly and Accessories: Gage for Contact Separation Force Test Method
连接器、印刷电路组件和附件:接触分离力测试仪试验方法

2018-03-02

现行

MIL MIL-DTL-55302/29B Notice 1-Validation 1

Connectors, Printed Circuit Subassembly and Accessories: Gage for Contact Separation Force Test Method
连接器、印刷电路组件和附件:接触分离力测试仪试验方法

2012-12-04

现行

MIL MIL-DTL-55302/29B

CONNECTORS, PRINTED CIRCUIT SUBASSEMBLY AND ACCESSORIES: GAGE FOR CONTACT SEPARATION FORCE TEST METHOD (SUPERSEDING MIL-C-55302/29A)
连接器、印刷电路组件和附件:接触分离力试验方法用量规（代替MIL-C-55302/29A）

2003-12-05

现行

MIL MIL-C-55302/29A Notice 2-Validation

CONNECTORS, PRINTED CIRCUIT SUBASSEMBLY AND ACCESSORIES: GAGE FOR CONTACT SEPERATION FORCE TEST METHOD (SEE MIL-C-55302E FOR GROUP VALIDATION NOTICE) (SUPERSEDING MIL-C-55302/29) (S/S BY MIL-DTL-55302/29B)
连接器、印刷电路组件和附件:接触分离力测试仪试验方法（见MIL-C-55302E组验证通知）（代替MIL-C-55303/29）（S/S改为MIL-DTL-55302/29B）

2001-06-06