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集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分：通用条件和定义 Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 1: General conditions and definitions
发布日期： 2023-09-07
实施日期： 2024-01-01
分类信息
发布单位或类别： 中国-国家标准
CCS分类： L56电子元器件与信息技术 - 微电路 - 半导体集成电路
ICS分类： 31.200电子学 - 集成电路、微电子学
关联关系
研制信息
归口单位： 全国集成电路标准化技术委员会
起草单位： 中国电子技术标准化研究院、 北京智芯微电子科技有限公司、 浙江诺益科技有限公司、 工业和信息化部电子第五研究所、 天津先进技术研究院、 广州市诚臻电子科技有限公司、 扬芯科技（深圳）有限公司、 北京无线电计量测试研究所、 上海市计量测试技术研究院、 中国家用电器研究院、 河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司、 东南大学、 深圳市北测标准技术服务有限公司、 中国汽车工程研究院股份有限公司、 北京芯可鉴科技有限公司、 南京信息工程大学、 中国信息通信研究院、 中国合格评定国家认可中心、 厦门海诺达科学仪器有限公司、 苏州泰思特电子科技有限公司、 郑州新基业汽车电子有限公司、 北京邮电大学、 南京容向测试设备有限公司、 上海电器设备检测所有限公司、 中国电子科技集团公司第三十二研究所
起草人： 崔强、 付君、 乔彦彬、 郑益民、 方文啸、 吴建飞、 叶畅、 李楠、 朱赛、 杨红波、 刘星汛、 李金龙、 张艳艳、 白云、 周香、 刘小军、 黄雪梅、 陈燕宁、 邵鄂、 万发雨、 臧琦、 刘佳、 梁吉明、 胡小军、 郭文明、 张金玲、 邢立文、 张青青、 张先利、 陈梅双
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