发光二极管模块热特性瞬态测试方法
Transient thermal test method for light emitting diode modules
发布日期:
2020-04-28
实施日期:
2020-11-01
本标准规定了由单个、多个发光二极管(LED)芯片或器件组成的 LED 模块热特性瞬态测试方法原理、一般要求、测试步骤、结果分析及计算、测试报告。
本标准适用于单个、多个 LED 芯片或器件封装而成的模块,以及 LED 芯片或器件和其他微电子器件构成的模块热特性测量。其他多芯片或器件封装而成的模块热特性测量也可参考