首页 馆藏资源 舆情信息 标准服务 科研活动 关于我们
现行 ГОСТ 23089.11-83
到馆阅读
收藏跟踪
购买正版
Микросхемы интегральные. Методы измерения коэффициента ослабления синфазных входных напряжений операционных усилителей и компараторов напряжения 集成电路 测量运算放大器和电压比较器输入共模电压抑制比的方法
实施日期: 1984-01-01
本标准适用于运算放大器(运放)和电压比较器(KH),并建立测量输入共模电压的衰减因子的方法:   1 - 法喂同相输入电压与运算放大器的输入端检查或CN通过电阻电桥;   2 - 进料的方法通过改变电压的共模输入电压
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители (ОУ) и компараторы напряжения (КН) и устанавливает методы измерения коэффициента ослабления синфазных входных напряжений: 1 - метод с подачей синфазных входных напряжений на входы проверяемого ОУ или КН через резистивный мост; 2 - метод с подачей синфазных входных напряжений посредством изменения напряжения питания
分类信息
关联关系
研制信息
相似标准/计划/法规
现行
GOST 23089.2-1983
Микросхемы интегральные. Метод измерения максимального выходного напряжения операционных усилителей
集成电路 测量运算放大器最大输出电压的方法
现行
GOST 23089.1-1983
Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента усиления операционных усилителей и компараторов напряжения
集成电路 测量运算放大器和电压比较器增益的方法
现行
GOST 23089.6-1983
Микросхемы интегральные. Метод измерения времени установления выходного напряжения операционных усилителей
集成电路 测量运算放大器输出电压稳定时间的方法
现行
GOST 23089.5-1983
Микросхемы интегральные. Метод измерения тока потребления и потребляемой мощности операционных усилителей и компараторов напряжения
集成电路 测量运算放大器和电压比较器消耗电流和功率的方法
现行
GOST 23089.3-1983
Микросхемы интегральные. Методы измерения напряжения и э. д. с. cмещения нуля операционных усилителей и компараторов напряжения
集成电路 测量运算放大器和电压比较器零偏移电压和电动势的方法
现行
GB/T 3436-1996
半导体集成电路 运算放大器系列和品种
Semiconductor integrated circuits--Series and products of operational amplifier
1996-07-09
现行
GOST 23089.10-1983
Микросхемы интегральные. Метод измерения максимальной скорости и времени нарастания выходного напряжения операционных усилителей
集成电路 测量运算放大器输出电压最大累积速率和时间的方法
现行
GOST 23089.8-1983
Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа напряжения и э. д. с смещения нуля операционных усилителей
集成电路 测量运算放大器平均温度电压漂移和零点偏移的方法
现行
GOST 23089.9-1983
Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа входных токов и разности входных токов операционных усилителей
集成电路 测量运算放大器输入偏置电流温度漂移和输入电流的方法
现行
GOST 23089.0-1978
Микросхемы интегральные. Общие требования при измерении электрических параметров операционных усилителей и компараторов напряжения
集成电路 测量运算放大器和电压比较器电气参数的一般要求
现行
GOST 23089.7-1983
Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и э. д. с смещения нуля операционных усилителей
集成电路 测量电源不稳定性的方法对运算放大器零漂电压和电动势的影响
现行
GOST 23089.16-1990
Микросхемы интегральные. Метод измерения запаса устойчивости по фазе операционных усилителей
集成微电路 测量运算放大器相位稳定裕度的方法
现行
GOST 23089.17-1990
Микросхемы интегральные. Методы измерения входного и выходного сопротивлений операционных усилителей
集成微电路 测量运算放大器输入和输出电阻的方法
现行
GOST 23089.15-1990
Микросхемы интегральные. Метод измерения частоты полной мощности операционных усилителей
集成微电路 测量运算放大器全功率频率的方法
现行
GB/T 14115-1993
半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
General principles of measuring methods of Sample/Hold amplifiers for semiconductor integrated circuits
1993-01-21
现行
SJ 20645-1997
微波电路放大器测试方法
Microwave circuits Measuring methods for amplifiers
1997-06-17
现行
GOST 27694-1988
Микросхемы интегральные. Усилители низкой, промежуточной и высокой частоты. Методы измерения электрических параметров
集成电路 低 中 高频放大器 电参数测量方法
现行
GOST 28814-1990
Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров схем управления импульсными стабилизаторами напряжения
集成电路 测量脉动调压器运行电路电气参数的方法
现行
KS C IEC 60748-3-1(2017 Confirm)
반도체 소자-집적 회로-제3-1부:아날로그 집적 회로-OP 앰프
半导体器件集成电路第3部分:模拟集成电路第1节:单片集成运算放大器空白详细规范
2002-11-30
现行
IEC 60748-3-1-1991
Semiconductor devices. Integrated circuits - Part 3: Analogue integrated circuits - Section one: Blank detail specification for monolithic integrated operational amplifiers
半导体器件 集成电路 - 第3部分:模拟集成电路 - 第一部分:单片集成运算放大器的空白详细规范
1991-08-02