首页 馆藏资源 舆情信息 标准服务 科研活动 关于我们
现行 ГОСТ 19656.0-74
到馆阅读
收藏跟踪
购买正版
Диоды полупроводниковые СВЧ. Методы измерения электрических параметров. Общие положения 半导体UHF二极管 电气参数测量方法 大体情况
实施日期: 1975-07-01
本标准适用于微波半导体二极管,并指定在微波频率的电参数的测量的位置一般
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды СВЧ и устанавливает общие положения при измерениях электрических параметров на сверхвысоких частотах
分类信息
关联关系
研制信息
起草单位: НИИ "Сапфир"
相似标准/计划/法规
现行
GOST 19656.2-1974
Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Метод измерения выпрямленного тока
半导体UHF混频二极管 整流电流的测量方法
现行
GOST 19656.4-1974
Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Методы измерения потерь преобразования
半导体UHF混频二极管 转换损耗的测量方法
现行
GOST 19656.7-1974
Диоды полупроводниковые СВЧ детекторные. Метод измерения чувствительности по току
半导体UHF检测器二极管 电流灵敏度测量方法
现行
GOST 19656.13-1976
Диоды полупроводниковые СВЧ детекторные. Методы измерения тангенциальной чувствительности
半导体UHF检测器二极管 切向灵敏度测量方法
现行
GOST 18986.0-1974
Диоды полупроводниковые. Методы измерения электрических параметров. Общие положения
半导体二极管 电气参数测量方法 一般要求
现行
GOST 19656.15-1984
Диоды полупроводниковые СВЧ. Методы измерения теплового сопротивления переход-корпус и импульсного теплового сопротивления
半导体UHF二极管 热电阻和脉冲热阻的测量方法
现行
GOST 19656.3-1974
Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Методы измерения выходного сопротивления на промежуточной частоте
半导体UHF混频二极管 中频输出阻抗的测量方法
现行
GOST 19656.6-1974
Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Методы измерения нормированного коэффициента шума
半导体UHF混频二极管 标准噪声系数的测量方法
现行
GOST 19656.5-1974
Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные и детекторные. Методы измерения шумового отношения
半导体UHF混合器和检测器二极管 输出噪声比的测量方法
现行
GOST 19656.1-1974
Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные и детекторные. Метод измерения коэффициента стоячей волны по напряжению
半导体UHF混合器和检测器二极管 电压驻波比的测量方法
现行
GOST R 51989-2002
Антенны приемные телевизионного и звукового радиовещания в диапазонах очень высоких и ультравысоких частот. Методы измерений электрических параметров
在VHF和UHF频段 电视和声音广播电台的电视接收天线 电参数测量方法
现行
SJ/T 2658.16-2016
半导体红外发射二极管测量方法 第16部分:光电转换效率
Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode - Part 16:Photo-electric conversion efficiency
2016-01-15