JIS C 2162:2010-碳化硅器件栅绝缘体高温长期可靠性试验方法-国家数字标准馆

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Test method of long-term reliability of gate insulator for SiC devices at high temperature 碳化硅器件栅绝缘体高温长期可靠性试验方法

发布日期： 2010-01-01

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《国家标准化发展纲要》提出建设国家数字标准馆，推动标准化工作向数字化、网络化、智能化转型。中国标准化研究院正在全力推进国家数字标准馆建设，力争在2026年底建成“一个中心”和“一个平台”，即全球领先的标准数据资源中心，涵盖标准全生命周期的数字化、网络化、智能化研究与服务平台。