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KS M ISO 21227-2-2012(2017)
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도료와 바니시-광 이미지 처리를 이용한 도막 표면의 결함 평가-제2부:다중 충격 스톤 칩 시험 평가 절차
色漆和清漆用光学成像法评定涂层表面的缺陷第2部分:多次冲击石屑试验的评定程序
该标准说明了利用光图像处理评估多冲石材芯片损伤的步骤。KS M ISO 20567-1规定了模拟损伤过程的适当方法。
이 표준은 다중 충격 스톤 칩 손상을 광 이미지 처리를 이용해 평가하는 절차를 설명한다. 손상 과 정을 시뮬레이션하는 적절한 방법은 KS M ISO 20567-1에 규정되어 있다.
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国家标准馆位于北京市海淀区知春路4号,可接待到馆读者,为读者提供标准文献检索、文献阅览、信息咨询、信息跟踪、信息推送等服务。
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