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现行 MIL MIL-M-38510/330C Notice 2-Validation
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Microcircuits, Digital, Bipolar Advanced Schottky TTL, Nand Gates, Monolithic Silicon 微型电路 数字 双极高级肖特基TTL Nand Gates 单片硅
发布日期： 2013-08-23
本规范涵盖了单片硅、高级肖特基TTL、正NAND逻辑门微电路的详细要求。每种类型都提供了两个产品保证等级以及外壳轮廓和铅饰面的选择，并反映在完整的零件号中。对于该产品，MIL-M-38510的要求已被MIL-PRF-38535取代（见6.3）。
This specification covers the detail requirements for monolithic silicon, Advanced Schottky TTL, positive NAND logic gate microcircuits. Two product assurance classes and a choice of case outlines and lead finishes are provided for each type and are reflected in the complete part number. For this product, the requirements of MIL-M-38510 have been superseded by MIL-PRF-38535, (see 6.3).
分类信息
发布单位或类别： 美国-美国军事规范和标准
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研制信息
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MICROCIRCUIT DIGITAL BIPOLAR ADVANCED LOW POWER SCHOTTKY TTL NOR GATES MONOLITHIC SILICON（SUPEREDED DESC 5962-86844）（S/S BY DSCC 5962-86844D）
1992-07-10
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2018-10-29
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2014-01-16
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微电路、数字、双极、高级低功耗肖特基TTL、与非门、单片硅（取代DESC 5962-86833A）
2001-11-01
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微电路 数字 双极 高级低功耗肖特基TTL 与非门 单片硅（取代DESC 5962-86865A）
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