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Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-3: Test 25c: Rise time degradation (IEC 60512-25-3:2001); German version EN 60512-25-3:2001
电子设备连接器.试验和测量.第25-3部分:试验25c:上升时间退化(IEC 60512-25-3-2001);德文版EN 60512-25-3:2001
发布日期:
2002-08-01
分类信息
发布单位或类别:
德国-德国标准化学会
关联关系
研制信息
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2002-09-30
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电子设备连接器 - 测试和测量 - 第25-3部分:测试25c - 上升时间退化
2001-07-26
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UNE-EN 60512-25-3-2002
Connectors for electronic equipment - Tests and measurement -- Part 25-3: Test 25c - Rise time degradation.
电子设备用连接器.试验和测量.第25-3部分:试验25c.上升时间退化
2002-09-30
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电子设备用连接器.试验和测量.第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗)
2003-05-30
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2008-08-28
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UNE-EN 60512-1-2003
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements. Part 1: General.
电子设备用连接器.试验和测量 第一部分:概述
2003-02-14
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DIN EN 60512-25-5
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电子设备连接器.试验和测量.第25-5部分:试验25e.回波损耗(IEC 60512-25-5-2004);德文版EN 60512-25-5:2004
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DIN EN 60512-25-1
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-1: Test 25a: Crosstalk ratio (IEC 60512-25-1:2001); German version EN 60512-25-1:2001
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电子设备连接器.试验和测量.第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗)(IEC 60512-25-2-2002);德文版EN 60512-25-2:2002
2002-12-01
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Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-6: Test 25f: Eye pattern and jitter (IEC 60512-25-6:2004); German version EN 60512-25-6:2004
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2004-12-01
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电子设备连接器 - 测试和测量第25-7部分:测试25g - 阻抗 反射系数和电压驻波比(vswr)
2004-12-15
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