BS 07/30171395 DC-英国标准EN 62374-1 半导体器件第一部分金属间层的时变介质击穿试验（TDDB）-国家数字标准馆

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BS EN 62374-1. Semiconductor devices. Part 1. Time dependent dielectric breakdown test (TDDB)for inter-metal layers 英国标准EN 62374-1 半导体器件第一部分金属间层的时变介质击穿试验（TDDB）

发布日期： 2007-11-19

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DIN EN 62374-1

Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers (IEC 62374-1:2010); German version EN 62374-1:2010 + AC:2011
半导体器件.第1部分:金属间层的时间依赖性介质击穿（TDDB）试验（IEC 62374-1-2010）；德文版EN 62374-1:2010+AC:2011

2011-06-01