이 규격은 POSIX규격에 대한 적합성 시험 방법의 개발과 사용을 위한 것이다. 이 규격에 명시된 일반적 인 시험 방법은 특정한 규격을 위해 명시된 시험 방법과 결합하여 사용될 수 있다. 이 규격은 POSIX 규격에 대한 시험 방법을 개발하는 실무 그룹, POSIX 시험 방법의 개발자, POSIX 시험방법의 사용자를 위한 것이다. 이 규격의 목적은 POSIX 규격에 대한 구현 적합성을 측정하기 위한 시험 단언과 연관된 시험 방법을 개발하기 위해 일반적인 규칙을 정의하기 위함이다. 시험 방법에는 POSIX 적합성 시험 조항(POSIX Conformance Test Suites)(PCTS), POSIX 적합성 시험 절차(POSIX Conformance Test Procedure) (PCTP), 그리고 POSIX 적합성 문서(POSIX Conformance Documents)(PCD)의 결산서가 포함될 수 있다. 규격에 대한 구현 적합성 시험은 규격의 적합성 요구 사항에 대해 구현의 요구된 기능과 처리 방식을 시험하는 것을 포함한다. 이러한 시험 방법의 사용은 규격에 관한 구현의 적합성을 보증하지는 못할 것 이다. 이것은 보통 기술적이고 경제적인 이유로 인해 일반적으로 철저한 시험을 요구한다.