本标准规定的输出特性确定方法（在稳定状态）的光纤（以下简称 - OM）和光纤光缆 - 暴露于伽马辐射（以下OK）。它可以被用来确定由辐射引起的信号衰减的电平，在单模OB类在多模OM类A，A1和A2类，作为其一部分或单独的行。    衰减在组合物中的行的或单独的转播，当暴露于γ辐射通常增加。这主要是由于在玻璃中辐射分解捕获电子和空穴在缺陷位置（即，由于形成“色心”）。这种方法提供了两个感兴趣的模式:低剂量率模式，以评估本底辐射和高剂量率制度的影响来评估不良辐射环境的影响。测试评估的背景辐射环境的影响使用衰减的测量方法，类似于IEC 60793-1-40（方法A）的终止的方法来进行。效果不利辐射环境是通过在与暴露于伽马辐射在试样前后监视电力，来确定。降低色彩中心的数量由于冲击光（fotobliching）或热导致的减少（照射引起的衰减减小）。还原可以在很宽的范围内的时间，这依赖于光照射和退火温度的时间。这个复杂确定所述衰减，由辐射引起的过程中，由于衰减取决于许多变量，包括在其中执行测试的介质的温度，用于衰减测量的样品中，总剂量和作用在样品剂量率，并且照明水平的配置。    该试验不是用于非光学元件材料的测试OK。如果你想探索暴露在辐射下的材料降解OK，则需要其他的测试方法。    这种测试方法是简洁明了的指令集。必要的补充信息，开展辐射相关测试，以及边界的不确定性测量在IEC/THEN 62283分别表示。    应当指出的是，严格的规定和相应的保护措施应在实验室中取来执行测试。为了进行这项测试，应慎重选择，让经过培训的人员。工作人员可非常危险的正确测试，并在不适合的环境

Настоящий стандарт устанавливает метод определения характеристик выходного сигнала (в установившемся режиме) оптических волокон (далее - ОВ) и оптических кабелей (далее - ОК), подвергаемых воздействию гамма-излучения. Его можно применять для определения уровня затухания сигнала, вызываемого радиацией, в одномодовых ОВ класса В или многомодовых ОВ класса А, категорий А1 и А2, в составе ОК или отдельных. Затухание в ОВ, в составе ОК или отдельных, обычно возрастает при воздействии гамма-излучения. Это происходит главным образом вследствие захвата радиолитических электронов и дырок в местах дефектов в стекле (то есть вследствие образования «цветных центров»). Данный метод предусматривает два режима, представляющих интерес: режим низкой мощности дозы излучения для оценки влияния фонового излучения и режим высокой мощности дозы излучения для оценки влияния неблагоприятной радиационной обстановки. Испытание для оценки влияния фонового излучения окружающей среды проводят с использованием метода измерения затухания, сходного с методом обрыва по МЭК 60793-1-40 (метод А). Влияние неблагоприятной радиационной обстановки определяют путем мониторинга мощности до, во время и после воздействия гамма-излучения на испытуемый образец. Уменьшение числа цветных центров вследствие воздействия света (фотобличинг) или тепла вызывает восстановление (уменьшение затухания, вызванного облучением). Восстановление может происходить на протяжении широкого диапазона времени, которое зависит от времени светового облучения и температуры отжига. Это усложняет процесс определения затухания, вызываемого излучением, поскольку затухание зависит от многих переменных, включая температуру среды, в которой проводят испытание, конфигурацию образца, общую дозу и мощность дозы излучения, воздействующего на образец, и уровень освещенности, используемый для измерения затухания. Данное испытание не является испытанием для материалов неоптических элементов ОК. Если необходимо изучить процесс деградации материалов ОК, подверженных облучению, то потребуются другие методы испытания. Данный метод испытания представляет собой четкий и краткий перечень инструкций. Справочная информация, необходимая для проведения надлежащих испытаний по облучению, так же как и границы неопределенности измерений, указана отдельно в МЭК/ТО 62283. Следует обратить внимание на то, что для проведения данного испытания в лаборатории должны быть приняты строгие правила и соответствующие защитные меры. К проведению данного испытания следует допускать тщательно подобранный подготовленный персонал. Для персонала может быть крайне рискованным проводить испытание ненадлежащим образом и в несоответствующих условиях