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硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试 非接触涡流感应法
Test method for excess-charge-carrier recombination lifetime in silicon ingots, silicon bricks and silicon wafers—Noncontact eddy-current sensor
发布日期:
2023-08-06
实施日期:
2024-03-01
分类信息
发布单位或类别:
中国-国家标准
CCS分类:
H21冶金 - 金属理化性能试验方法 - 金属物理性能试验方法
ICS分类:
77.040冶金 - 金属材料试验
关联关系
研制信息
归口单位:
全国半导体设备和材料标准化技术委员会
起草单位:
TCL中环新能源科技股份有限公司、
弘元新材料(包头)有限公司、
隆基绿能科技股份有限公司、
宜昌南玻硅材料有限公司、
浙江海纳半导体股份有限公司、
内蒙古中环晶体材料有限公司、
四川永祥光伏科技有限公司
起草人:
张雪囡、
王林、
王建平、
李向宇、
杨阳、
邓浩、
刘文明、
赵子龙、
郭红强、
张石晶、
潘金平、
李寿琴、
赵军
相似标准/计划/法规
【到馆阅览须知】
国家标准馆位于北京市海淀区知春路4号,可接待到馆读者,为读者提供标准文献检索、文献阅览、信息咨询、信息跟踪、信息推送等服务。
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开放时间:
每周一至周五8:30-17:00(节假日不开放)
地 址:
北京市海淀区知春路4号
乘车线路:
乘坐地铁10号线、昌平线,在西土城站下车D口出后西行150米即可到达。
服务咨询:
赵老师 电话:010-58811369 邮箱:zhaoping@cnis.ac.cn
刘老师 电话:010-58811368 邮箱:liuyzh@cnis.ac.cn
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