ISO 19668:2017-表面化学分析.X射线光电子能谱.均匀材料中元素的估计和报告检测限-国家数字标准馆

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Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Estimating and reporting detection limits for elements in homogeneous materials 表面化学分析.X射线光电子能谱.均匀材料中元素的估计和报告检测限

发布日期： 2017-08-14

ISO 19668:2017规定了一种程序，通过该程序，可以根据常见分析情况下特定样品的数据估算X射线光电子能谱（XPS）中的元素检测限值并进行报告。本文件适用于均质材料，如果元素的深度分布在技术的信息深度内不均匀，则不适用。

ISO 19668:2017 specifies a procedure by which elemental detection limits in X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) can be estimated from data for a particular sample in common analytical situations and reported. This document is applicable to homogeneous materials and is not applicable if the depth distribution of elements is inhomogeneous within the information depth of the technique.

分类信息

发布单位或类别：国际组织-国际标准化组织

ICS分类： 71.040.40分析化学 - 化学分析

关联关系

研制信息

归口单位： ISO/TC 201/SC 7

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