首页 馆藏资源 舆情信息 标准服务 科研活动 关于我们
现行 BS IEC 60747-10:1991
到馆阅读
收藏跟踪
购买正版
Semiconductor devices-Generic specification for discrete devices and integrated circuits 半导体器件 分立器件和集成电路总规范
发布日期: 2011-07-31
IECQ系统中使用的质量评估通用程序和电气特性、气候和机械试验以及耐久性试验的测量方法通用规则。交叉引用:英国标准2011:第1.1BS 2011部分:第2.1BS 3934部分:第1BS 3934部分:第2BS 3934部分:第3BS 3939BS 5555BS 6001部分:第1BS 6100部分:第3节。1BS 6493:第1.1BS 6493节:第1.2BS 6493节:第1.3BS 6493节:第1.5BS 6493节:第2.1BS 6493节:第2.2BS 6493节:第2.3BS 6493节:第3BS 7151BS 9000部分:第3BS QC 790100部分替换了BS 9450:1998(保持当前状态)和BS 9970:0:1985(撤销)。包含以下内容:AMD 9348于1997年2月15日发布,勘误表,2011年7月
General procedures for quality assessment to be used in the IECQ system and general rules for measurement methods of electrical characteristics, climatic and mechanical tests and endurance tests.Cross References:BS 2011:Part 1.1BS 2011:Part 2.1BS 3934:Part 1BS 3934:Part 2BS 3934:Part 3BS 3939BS 5555BS 6001:Part 1BS 6100:Section 3. 1BS 6493:Section 1.1BS 6493:Section 1.2BS 6493:Section 1.3BS 6493:Section 1.5BS 6493:Section 2.1BS 6493:Section 2.2BS 6493:Section 2.3BS 6493:Part 3BS 7151BS 9000:Part 3BS QC 790100Replaces BS 9450:1998 which remains current and BS 9970:Part 0:1985 which is withdrawn.Incorporates the following:AMD 9348 published 15 February 1997Corrigendum, July 2011
分类信息
发布单位或类别: 英国-英国标准学会
关联关系
研制信息
相似标准/计划/法规
现行
GB/T 12560-1999
半导体器件 分立器件分规范
Semiconductor devices--Sectional specification for discrete devices
1999-08-02
现行
KS C IEC 60747-11(2017 Confirm)
개별 반도체 소자-제11부:개별 소자의 품종 규격
分立半导体器件第11部分:分立器件分规范
2002-12-31
现行
QJ 10007-2008
宇航用半导体分立器件通用规范
General specification for discrete semiconductor devices of space applications
2008-02-16
现行
GB/T 43366-2023
宇航用半导体分立器件通用规范
General specification for discrete semiconductor devices of space application
2023-11-27
现行
GOST 28623-1990
Приборы полупроводниковые. Часть 10. Общие технические условия на дискретные приборы и интегральные микросхемы
半导体器件 第10部分分立器件和集成电路的一般规范
现行
GB/T 4589.1-2006
半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范
Semiconductor devices - Part 10: Generic specification for discrete devices and integrated circuits
2006-10-10
现行
UNE 20700-11-1991
SEMICONDUCTOR DEVICES. PART 11: SECTIONAL SPECIFICATION FOR DISCRETE DEVICES.
半导体器件 第11部分:分立器件分规范
1991-09-12
现行
GOST 28624-1990
Приборы полупроводниковые. Часть 11. Групповые технические условия на дискретные приборы
半导体器件 第11部分分立器件的部分规范
现行
GB/T 17573-1998
半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分:总则
Semiconductor devices--Discrete devices and integrated circuits--Part 1:General
1998-11-17
现行
KS C IEC 60747-5-1
개별 반도체 소자 및 집적 회로 —제5-1부: 광전소자 — 일반 사항
分立半导体器件和集成电路第5-1部分:光电器件总则
2020-12-24
现行
BS CECC 50000-1987
Harmonized system of quality assessment for electronic components. Generic specification: discrete semiconductor devices
电子元件质量评定协调体系 总规范:分立半导体器件
1987-10-30
现行
MIL MIL-PRF-19500/303 Notice 1-Inactivation
SEMICONDUCTOR DEVICES, GENERAL SPECIFICATION FOR
半导体器件通用规范
1999-06-07
现行
MIL MIL-PRF-19500/274C Notice 1-Inactivation
SEMICONDUCTOR DEVICES, GENERAL SPECIFICATION FOR
半导体器件通用规范
1999-06-07
现行
MIL MIL-PRF-19500/244B Notice 1-Inactivation
SEMICONDUCTOR DEVICES, GENERAL SPECIFICATION FOR
半导体器件通用规范
1999-06-07
现行
MIL MIL-PRF-19500/372A Notice 1-Inactivation
SEMICONDUCTOR DEVICES, GENERAL SPECIFICATION FOR
半导体器件通用规范
1999-06-07
现行
MIL MIL-PRF-19500/419 Notice 1-Inactivation
SEMICONDUCTOR DEVICES, GENERAL SPECIFICATION FOR
半导体器件通用规范
1999-06-07
现行
MIL MIL-PRF-19500/440A Notice 1-Inactivation
SEMICONDUCTOR DEVICES, GENERAL SPECIFICATION FOR
半导体器件通用规范
1999-06-07
现行
MIL MIL-PRF-19500P
Semiconductor Devices, General Specification for
半导体器件通用规范
2010-10-20
现行
MIL MIL-PRF-19500/87A Notice 1-Inactivation
SEMICONDUCTOR DEVICES, GENERAL SPECIFICATION FOR
半导体器件通用规范
1999-06-07
现行
MIL MIL-PRF-19500P Amendment 4
Semiconductor Devices, General Specification for
半导体器件通用规范
2018-05-18