KS C IEC 60748-11-1-2004(2020)-半导体器件集成电路第11－1部分:不包括混合电路的半导体集成电路内部目视检查 -国家数字标准馆

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반도체 소자－집적 회로－제11－1부：혼성 회로를 제외한 반도체 집적 회로를 위한 내장 검사 半导体器件集成电路第11－1部分:不包括混合电路的半导体集成电路内部目视检查

发布日期： 2004-08-13

                该规格的目的是检查集成电路的内部材料、结构及完成度，以符合适用的规格要求。为了检测并消除标准应用中可能引起不良的元件内部缺陷，在以100%检查为依据进行卡扣或胶囊缝合之前，通常使用该试验。为了了解制造者的质量管理及半导体元件的处理程序的效率，也可以在打样之前取样使用该试验。

이 규격의 목적은 적용 가능한 규격 요구 사항에 부 합하도록 집적 회로의 내부 재료, 구조 및 완성도를 점검하기 위함이다. 표준적인 응용에서 불량을 일으킬 수 있는 소자의 내 부 결함들을 검출하여 제거하기 위해, 100 % 검사를 근거로 하여 캐핑 또는 캡슐 봉합하기에 앞서, 통상 적으로 이 시험이 사용된다. 제조자의 품질 관리 및 반도체 소자의 취급 절차의 효율성을 알아보기 위해 캐핑에 앞서, 샘플링하여 이 시험을 사용할 수도 있다.

分类信息

发布单位或类别：韩国-韩国标准

ICS分类： 31.200电子学 - 集成电路、微电子学

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研制信息

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