半导体照明设备和系统的光辐射安全测试方法
Measuring methods of optical radiation safety for semiconductor lighting equipments and systems
发布日期：
2018-03-15
实施日期：
2018-10-01
本标准规定了半导体照明设备和系统的光辐射安全分类、测量与评价方法。本标准适用于主要发射波长为 380 nm～780 nm 范围内的半导体照明设备和系统（以下简称 LED照明系统）的检测和验收。本标准不适用于婴幼儿与易感人群、医疗目的、以及汽车前灯等特种 LED 照明系统
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