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现行 GB/T 11297.6-1989
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锑化铟单晶位错蚀坑的腐蚀显示及测量方法 Standard method for showing and measuring dislocation etch pits in Indium Antimonide single crystal
发布日期: 1989-03-31
实施日期: 1990-01-01
分类信息
发布单位或类别: 中国-国家标准
CCS分类: L32
ICS分类: 31.200电子学 - 集成电路、微电子学
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研制信息
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