首页 馆藏资源 舆情信息 标准服务 科研活动 关于我们
现行 ГОСТ 18986.23-80
到馆阅读
收藏跟踪
购买正版
Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума 齐纳二极管 测量光谱噪声密度的方法
实施日期: 1982-01-01
本标准适用于齐纳二极管,并建立测量噪声谱密度的两种方法:    测量噪声齐纳安装测量频带的频谱密度时范围为5赫兹方法1是适用 - 30兆赫;     测量光谱时方法2施加具有范围0.01-5赫兹该组测量带宽精度齐纳噪声密度
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения спектральной плотности шума: метод 1 применяют при измерении спектральной плотности шума стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 5 Гц - 30 МГц; метод 2 применяют при измерении спектральной плотности шума прецизионных стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 0,01-5 Гц
分类信息
关联关系
研制信息
相似标准/计划/法规