本标准适用于光电器件，并设置用于评估的光电器件特性线性度的程序。这个标准定义了用于确定从一个光电器件的工作参数的线性相关性的程序其操作条件的参数。基本上，这个标准适用于由仪器制造商和系统设计人员在校准实验室中使用。    评价光生伏打装置和系统，和方法的性能，用于致动这些特征组合方式之一设备（例如，温度和辐照度）到另一个通常基于使用线性方程组（见。在IEC 60891和IEC 61829）。用于光伏器件的测试，通常需要有测试样品的一个或多个参数和标准仪器是线性的依赖的试验条件的变化:在其中测试进行的范围内的温度变化和/或辐照。此标准规定了提供精度要求在其下器件的特性可以被认为是线性的，和试验方法使用线性方程组的结果。间接的标准的要求限定温度和辐照度的范围，在其中可使用线性方程。    本标准适用于所有的光伏器件，旨在用于测试样品的光伏器件或具有类似到其上的装置，用相同的工艺制成。测试仪表双边可以变化的温度测量程序。在这种情况下，测量温度必须通过特殊的技术来进行。它可能需要使用合适的特殊的测量设备和基准装置

Настоящий стандарт распространяется на фотоэлектрические приборы и устанавливает процедуры, используемые для оценки степени линейности характеристик фотоэлектрического прибора. Настоящий стандарт устанавливает процедуры определения линейной зависимости какого-либо рабочего параметра фотоэлектрического прибора от одного из параметров условий его функционирования. В основном этот стандарт предназначен для использования производителями приборов и разработчиками систем в калибровочных лабораториях. Оценки рабочих характеристик фотоэлектрических приборов и систем, а также способы приведения этих характеристик от одного сочетания условий функционирования приборов (например, температуры и энергетической освещенности) к другому часто основаны на использовании линейных уравнений (см. МЭК 60891 и МЭК 61829). Для проведения испытаний фотоэлектрических приборов, как правило, необходимо, чтобы один или несколько параметров испытываемого образца и эталонного прибора имели линейную зависимость от изменения условий испытаний: изменения температуры или/и энергетической освещенности в диапазоне, в котором проводятся испытания. В настоящем стандарте устанавливаются требования, при выполнении которых характеристики приборов могут считаться линейными, и методы испытаний, которые обеспечивают достоверность результатов применения линейных уравнений. Косвенным образом требования настоящего стандарта определяют диапазоны изменения температуры и энергетической освещенности, в которых допустимо использование линейных уравнений. Настоящий стандарт применим ко всем фотоэлектрическим приборам и предназначен для проведения испытаний с образцом фотоэлектрического прибора или с аналогичным ему устройством, выполненным по идентичной технологии. Испытание двусторонних приборов может отличаться процедурой измерения температуры. Измерения температуры в этом случае должны проводиться по специальной методике. Может потребоваться использование соответствующих специальных средств измерения и эталонного прибора