现行

BS EN 60749-36-2003

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods-Acceleration, steady state
半导体器件 机械和气候试验方法

2003-06-19

现行

IEC 60749-36-2003

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 36: Acceleration, steady state
半导体器件机械和气候试验方法第36部分:加速稳态

2003-02-13

现行

BS EN 60749-33-2004

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods-Accelerated moisture resistance. Unbiased autoclave
半导体器件 机械和气候试验方法

2004-06-22

现行

UNE-EN 60749-36-2004

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 36: Acceleration, steady state
半导体器件机械和气候试验方法第36部分:稳态加速度

2004-03-18

现行

KS C IEC 60749(2020 Confirm)

반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법
半导体器件机械和气候试验方法

2004-08-13

现行

SJ/Z 9016-1987

半导体器件 机械和气候试验方法
Semiconductor devices--Mechanical and climatic test methods

1987-09-14

现行

GOST 28578-1990

Приборы полупроводниковые. Механические и климатические испытания
半导体器件 机械和气候试验方法

现行

BS EN 60749-1-2003

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods-General
半导体器件 机械和气候试验方法

2003-07-07

现行

BS EN 60749-21-2011

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods-Solderability
半导体器件 机械和气候试验方法

2011-08-31

现行

BS EN 60749-8-2003

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods-Sealing
半导体器件 机械和气候试验方法

2003-07-03

现行

IEC 60749-33-2004

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave
半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第33部分:加速耐湿性 - 无偏压高压灭菌器

2004-03-09

现行

IEC 60749-24-2004

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST
半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第24部分:加速耐湿性 - 无偏差

2004-03-09

现行

KS C IEC 60749-24(2016 Confirm)

반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제24부：가속된 수분 저항－바이어스되지 않은 HAST
半导体器件机械和气候试验方法第24部分:加速防潮无偏试验

2006-03-24

现行

KS C IEC 60749-24(2021 Confirm)

반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제24부：가속된 수분 저항－바이어스되지 않은 HAST
半导体器件机械和气候试验方法第24部分:加速防潮无偏试验

2006-03-24

现行

UNE-EN 60749-24-2005

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST
半导体器件机械和气候试验方法第24部分:加速防潮无偏试验

2005-03-16

现行

UNE-EN 60749-33-2005

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave
半导体器件机械和气候试验方法第33部分:加速防潮无偏高压釜

2005-03-16

现行

BS EN 60749-38-2008

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods-Soft error test method for semiconductor devices with memory
半导体器件 机械和气候试验方法

2008-06-30

现行

BS EN IEC 60749-17-2019

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods-Neutron irradiation
半导体器件 机械和气候试验方法

2019-05-15

现行

BS EN 60749-9-2017

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods-Permanence of marking
半导体器件 机械和气候试验方法

2017-11-27

现行

BS EN 60749-22-2003

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods-Bond strength
半导体器件 机械和气候试验方法

2003-07-04