首页 馆藏资源 舆情信息 标准服务 科研活动 关于我们
现行 ГОСТ 18986.6-73
到馆阅读
收藏跟踪
购买正版
Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления 半导体二极管 测量回收费用的方法
实施日期: 1975-01-01
本标准适用于脉冲和所述半导体整流二极管和开关二极管作为微波范围,其中,所述累积电荷可被假定为等于电荷恢复和设置恢复电荷测量方法
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды, а также на переключательные диоды диапазона СВЧ, у которых накопленный заряд может быть принят равным заряду восстановления и устанавливает метод измерения заряда восстановления
分类信息
关联关系
研制信息
相似标准/计划/法规
现行
GOST 18986.8-1973
Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления
半导体二极管 逆向恢复时间测量方法
现行
JEDEC EIA 318-B
MEASUREMENT OF REVERSE RECOVERY TIME FOR SEMICONDUCTOR SIGNAL DIODES
半导体信号二极管反向恢复时间的测量
1996-07-01
现行
GOST 18986.9-1973
Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления
半导体二极管 测量脉冲直流电压和脉冲恢复时间的方法
现行
SJ 2658-1986
半导体红外发光二极管测试方法
Method of measurement for semiconductor infrared diodes
1986-01-21
现行
SJ/T 2749-2016
半导体激光二极管测试方法
Measuring methods for semiconductor laser diodes
2016-01-15
现行
GOST 18986.10-1974
Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности
半导体二极管 电感测量方法
现行
GOST 18986.4-1973
Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости
半导体二极管 测量电容的方法
现行
SJ 20788-2000
半导体二极管热阻抗测试方法
Measurment method for thermal impedance of semiconductor diodes
2000-10-20
现行
GOST 18986.24-1983
Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения
半导体二极管 击穿电压测量方法
现行
GOST 18986.5-1973
Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения
半导体二极管 测量过渡时间的方法
现行
GOST 18986.7-1973
Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда
半导体二极管 寿命测量方法
现行
SJ/T 11394-2009
半导体发光二极管测试方法
Measure methods of semiconductor light emitting diodes
2009-11-17
现行
GOST 18986.12-1974
Диоды полупроводниковые туннельные. Метод измерения отрицательной проводимости перехода
半导体隧道二极管 测量本征二极管负电导的方法
现行
GOST 18986.20-1977
Стабилитроны полупроводниковые прецизионные. Метод измерения времени выхода на режим
半导体二极管 参考齐纳二极管 预热时间的测量方法
现行
GOST 18986.14-1985
Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений
半导体二极管 差分和斜率电阻测量方法
现行
GOST 18986.1-1973
Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного обратного тока
半导体二极管 直接反向电流测量方法
现行
GOST 18986.11-1984
Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь
半导体二极管 总串联等效电阻测量方法
现行
GOST 19656.7-1974
Диоды полупроводниковые СВЧ детекторные. Метод измерения чувствительности по току
半导体UHF检测器二极管 电流灵敏度测量方法
现行
GOST 19656.2-1974
Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные. Метод измерения выпрямленного тока
半导体UHF混频二极管 整流电流的测量方法
现行
GOST 19656.14-1979
Диоды полупроводниковые СВЧ переключательные. Метод измерения критической частоты
半导体微波开关二极管 临界频率测量方法