SJ/T 11577-2016-SJ/T 11394-2009《半导体发光二极管测试方法》应用指南-国家数字标准馆

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SJ/T 11394-2009《半导体发光二极管测试方法》应用指南 Guide on SJ/T 11394-2009 《Measure methods of semiconductor light emitting diodes》

发布日期： 2016-01-15

实施日期： 2016-06-01

分类信息

发布单位或类别：中国-行业标准-电子

CCS分类： L53电子元器件与信息技术 - 光电子器件 - 半导体发光器件

ICS分类： 31.260电子学 - 光电子学、激光设备

关联关系

研制信息

归口单位：工业和信息化部电子工业标准化研究院

起草单位：广州赛西光电标准检测研究院有限公司、杭州浙大三色仪器有限公司、工业和信息化部电子工业标准化研究院

起草人：周钢、牟同升、赵英

相似标准/计划/法规

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