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现行 SJ 20635-1997
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半绝缘砷化镓剩余杂质浓度微区试验方法 Test method for residual impurities concentration in microzone of semi-insulating gallium arsenide
发布日期: 1997-06-17
实施日期: 1997-10-01
分类信息
发布单位或类别: 中国-行业标准-电子
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