范围:本标准规定了光谱范围为190nm～1100 nm的光谱仪器用线阵电荷耦合成像器件的术语和参数测试方法。 本标准适用于光谱范围为190nm～1100 nm的光谱仪器用线阵电荷耦合成像器件（以下简称CCD器件）的参数测试; 主要技术内容:测试方法的分类本标准规定的测试方法分类如下：——方法 01  暗信号；——方法 02  暗信号非均匀性（固定图像噪声）；——方法 03  读出噪声；——方法 04  光响应非线性、饱和输出信号；——方法 05  动态范围；——方法 06  信噪比；——方法 07  缺陷；——方法 08  光响应非均匀性；——方法 09  响应率；——方法 10  光谱响应范围