20233951-T-610-非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法-国家数字标准馆

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非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 Measurement method of Hall mobility and Hall coefficient of extrinsic semiconductor single crystal

下达日期： 2023-12-28

分类信息

发布单位或类别：中国-国家标准计划

ICS分类： 77.040.01金属材料试验 - 金属材料试验综合

关联关系

研制信息

归口单位：全国有色金属标准化技术委员会

起草单位：有研国晶辉新材料有限公司、云南临沧鑫圆锗业股份有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所、中国科学院半导体研究所、中国电子科技集团公司第四十六研究所、广东先导微电子科技有限公司、大庆溢泰半导体材料有限公司

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