BS EN 60749-38:2008-半导体器件机械和气候试验方法-国家数字标准馆

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Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods-Soft error test method for semiconductor devices with memory 半导体器件机械和气候试验方法

发布日期： 2008-06-30

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发布单位或类别：英国-英国标准学会

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