首页 馆藏资源 舆情信息 标准服务 科研活动 关于我们
现行 GB/T 5594.1-1985
到馆阅读
收藏跟踪
购买正版
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法 Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for gas-tightness
发布日期: 1985-11-27
实施日期: 1986-12-01
分类信息
发布单位或类别: 中国-国家标准
CCS分类: L32
ICS分类: 81.060玻璃和陶瓷工业 - 陶瓷
关联关系
研制信息
归口单位: 工业和信息化部(电子)
起草单位: 电子部12所
起草人: 高陇桥
相似标准/计划/法规
现行
GB/T 5594.5-1985
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method forvolume resistivity
1985-11-27
现行
GB/T 5594.8-2015
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device—Part 8: Test method for microstructure
2015-05-15
现行
GB/T 5594.7-2015
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第7部分:透液性测定方法
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device—Part 7: Test method for liquid permeability
2015-05-15
现行
GB/T 5594.2-1985
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for Youngs elastic modulus and Poisson ratio
1985-11-27
现行
GB/T 5594.3-2015
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分:平均线膨胀系数测试方法
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device—Part 3: Test method for mean coefficient of linear expansion
2015-05-15
现行
GB/T 5594.4-2015
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device—Part 4: Test method for permittivity and dielectric loss angle tangent value
2015-05-15
现行
GB/T 5594.6-2015
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分:化学稳定性测试方法
Test methods for properties of structure ceramics used in eletronic components and device—Part 6: Test method for chemical durability
2015-05-15