BS EN 62374:2007-半导体器件栅介质膜的时变介质击穿（TDDB）试验-国家数字标准馆

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Semiconductor devices. Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films 半导体器件栅介质膜的时变介质击穿（TDDB）试验

发布日期： 2008-10-31

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