首页 馆藏资源 舆情信息 标准服务 科研活动 关于我们
作废 SJ/T 10753-1996
到馆阅读
收藏跟踪
购买正版
电子器件用金、银及其合金钎焊料 Gold,silver and their alloy brazing for electronic devices
发布日期: 1996-11-20
实施日期: 1997-01-01
废止日期: 2016-04-01
分类信息
关联关系
研制信息
相似标准/计划/法规
现行
SJ/T 10753-2015
电子器件用金、银及其合金钎料
Gold,silver and their alloy brazing for electron device
2015-10-10
现行
SJ/T 10754-2015
电子器件用金、银及其合金钎料分析方法 清洁性、溅散性的测定
Test methods for gold,silver and their alloy brazing for electron device Determination of cleanness,spatter
2015-10-10
现行
YS/T 1070-2015
真空断路器用银及其合金钎料环
Silver and their alloy brazing filler ring materials for vacuum switching devices
2015-04-30
现行
SJ/T 11030-2015
电子器件用金铜及金镍纤料中杂质 铅、锌、磷的ICP-AES测定方法
Test method for lead,phosphorus and zinc in gold copper and gold nickel brazing for electron device by ICP-AES
2015-10-10
现行
SJ/T 11029-2015
电子器件用金镍纤料的分析方法 EDTA容量法测定镍
Analytical methods for gold nickel brazing for electron device Determination of nickel by EDTA volumetry
2015-10-10
现行
SJ/T 11028-2015
电子器件用金铜钎料的分析方法 EDTA容量法测定铜
Analytical methods for gold copper brazing for electron device Determination of copper by EDTA volumetry
2015-10-10
现行
SJ/T 11018-2016
电子器件用纯银钎料的分析方法 燃烧碘量法测定硫
Analytical methods for pure silver brazing for electron device Determination of sulphur by combustion-iodimetry
2016-01-15
现行
SJ/T 11020-1996
电子器件用银铜钎焊料的分析方法 碘量法测定铜
Methods of analysis for silver-copper brazing for electronic devices--Determination of copper (iodimetric method)
1996-11-20
现行
SJ/T 11027-1996
电子器件用银铜钎焊料的分析方法 原子吸收分光光度法测定镁
Methods of analysis for silver-copper brazing for electronic devices--Determination of magnesium (spectrophotometric-atomic absorption method)
1996-11-20
现行
SJ/T 11025-1996
电子器件用银铜钎焊料的分析方法 原子吸收分光光度法测定铅
Methods of analysis for silver-copper brazing for electronic devices--Determination of lead (spectrophotometric-atomic absorption method)
1996-11-20
现行
SJ/T 11023-1996
电子器件用银铜钎焊料的分析方法 原子吸收分光光度法测定铋
Methods of analysis for silver-copper brazing for electronic devices--Determination of bismuth (spectrophotometric-atomic absorption method)
1996-11-20
现行
SJ/T 11022-1996
电子器件用银铜钎焊料的分析方法 邻基二酚紫-溴化十六烷基吡啶分光光度法测定锡
Methods of analysis for silver-copper brazing for electronic devices--Determination of tin (spectrophotometric C21H38BrN absorption method)
1996-11-20
现行
SJ/T 11024-1996
电子器件用银铜钎焊料的分析方法 原子吸收分光光度法测定锑
Methods of analysis for silver-copper brazing for electronic devices--Determination of antimony (spectrophotometric-atomic absorption method)
1996-11-20
现行
SJ/T 11026-1996
电子器件用银铜钎焊料的分析方法 原子吸收分光光度法测定铁、镉、锌
Methods of analysis for silver-copper brazing for electronic devices--Determination of iron,cadmium and zinc (spectrophotometric-atomic absorption method)
1996-11-20
现行
SJ/T 11011-2015
电子器件用纯银纤料中杂质含量铅、铋、锌、镉、铁、镁、铝、锡、锑、磷的ICP-AES测定方法
Test method for lead,bismuth,zinc,cadmium,iron,magnesium,aluminium,tin,antimony and phosphorus in pure silver brazing for electron device by ICP-AES
2015-10-10
现行
SJ/T 11021-1996
电子器件用银铜钎焊料的分析方法 铅、铋、锌、镉、铁、镁、铝、锡和锑的化学光谱测定
Methods of analysis for silver-copper brazing for electronic devices--Determination of Pb, Bi, Zn, Cd, Fe, Mg, Al, Sn and Sb (spectrochemical method)
1996-11-20