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Semiconductor devices. Integrated circuits-Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits 半导体器件 集成电路 不包括混合电路的半导体集成电路分规范
发布日期: 2011-07-31
封装电路(包括多芯片电路)的质量评估程序、检查要求、筛选顺序、取样要求、测试和测量程序。结合BS QC 700000阅读交叉参考:IEC 60068IEC 60068-2-17:1978IEC 60191-2:1966IEC 60191-4:1987IEC 60617-12:1983IEC 60617-13:1978IEC 60747-1:1983IEC 60747-10-1984IEC 60748IEC 60748-1:1984IEC 60748-2-1985IEC 60748-3-1986IEC 60748-4:198IEC 60749:1984QC 001002:1986
Quality assessment procedures, inspection requirements, screening sequences, sampling requirements, test and measurement procedures for encapsulated, including multichip circuits. To be read in conjunction with BS QC 700000Cross References:IEC 60068IEC 60068-2-17:1978IEC 60191-2:1966IEC 60191-4:1987IEC 60617-12:1983IEC 60617-13:1978IEC 60747-1:1983IEC 60747-10-1984IEC 60748IEC 60748-1:1984IEC 60748-2-1985IEC 60748-3-1986IEC 60748-4:198IEC 60749:1984QC 001002:1986
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发布单位或类别: 英国-英国标准学会
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