DIN EN IEC 63287-2-DRAFT-文件草案.半导体器件.可靠性鉴定计划指南.第2部分:任务剖面的概念（IEC 47/2718/CDV:2021）；德语和英语版本prEN IEC 63287-2:2021-国家数字标准馆

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Draft Document - Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile (IEC 47/2718/CDV:2021); German and English version prEN IEC 63287-2:2021 文件草案.半导体器件.可靠性鉴定计划指南.第2部分:任务剖面的概念（IEC 47/2718/CDV:2021）；德语和英语版本prEN IEC 63287-2:2021

发布日期： 2022-06-01

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发布单位或类别：德国-德国标准化学会

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