KS C 5210-1980(2020)-一般规则可靠性ASSURED数字半导体集成电路-国家数字标准馆

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신뢰성 보증 디지털 반도체 집적 회로 통칙 一般规则可靠性ASSURED数字半导体集成电路

发布日期： 1980-12-30

该规格对用于电子仪器的数字半导体集成电路中，特别要求可靠性保证的数字IC的可靠性保证程序、认证试验、质量保证检查、定期认证维持试验等共同事项进行规定。

이 규격은 전자 기기에 쓰는 디지탈 반도체 집적 회로 중에서, 특별히 신뢰성 보증이 요구되는 디지탈 IC에 대한 신뢰성 보증 프로그램, 인증 시험, 품질 보증 검사, 정기적 인증 유지 시험등의 공통적 사항에 대하여 규정한다.

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发布单位或类别：韩国-韩国标准

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