ISO 19318:2021-表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 报告用于充电控制和电荷校正的方法-国家数字标准馆

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Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Reporting of methods used for charge control and charge correction 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 报告用于充电控制和电荷校正的方法

发布日期： 2021-06-04

本文件规定了报告分析结果的最低信息量，以描述用X射线光电子测量绝缘试样的芯层结合能时的电荷控制和电荷校正方法。它还提供了结合能测量中电荷控制和电荷校正的方法。

This document specifies the minimum amount of information spectroscopy to be reported with the analytical results to describe the methods of charge control and charge correction in measurements of core-level binding energies for insulating specimens by X？ray photoelectron. It also provides methods for charge control and for charge correction in the measurement of binding energies.

分类信息

发布单位或类别：国际组织-国际标准化组织

ICS分类： 71.040.40分析化学 - 化学分析

关联关系

研制信息

归口单位： ISO/TC 201/SC 7

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