首页 馆藏资源 舆情信息 标准服务 科研活动 关于我们
现行 CID A-A-58012
到馆提醒
收藏跟踪
购买正版
TEST SET, INTERFACE BUS 测试集 接口总线
发布日期: 1993-02-01
分类信息
发布单位或类别: 未知国家-其他未分类
关联关系
研制信息
相似标准/计划/法规
现行
GOST R 52074-2003
Интерфейс магистральный последовательный системы электронных модулей. Тестирование серийных образцов интерфейсных модулей, функционирующих в режиме контроллера шины. Общие требования к методам контроля
电子模块系统总线串行接口 接口模块的测试方案 作为总线控制器 测试方法的一般要求
现行
GOST R 52073-2003
Интерфейс магистральный последовательный системы электронных модулей. Тестирование интерфейсных модулей, функционирующих в режиме монитора шины. Общие требования к методам контроля
电子模块系统总线串行接口 接口模块的测试方案 作为总线监视器 测试方法的一般要求
现行
GOST R 51739-2001
Интерфейс магистральный последовательный системы электронных модулей. Тестирование опытных образцов интерфейсного модуля в режиме контроллера шины. Общие требования к методам контроля
电子模块系统总线串行接口 接口模块验证测试计划 作为总线控制器 测试方法的一般要求
现行
GOST R 52071-2003
Интерфейс магистральный последовательный системы электронных модулей. Тестирование комплекса аппаратного оборудования. Общие требования к методам контроля
电子模块系统总线串行接口 接口设备复杂的测试计划测试方法的一般要求
现行
GOST R 52075-2003
Интерфейс магистральный последовательный системы электронных модулей. Тестирование серийных образцов интерфейсных модулей, функционирующих в режиме оконечного устройства. Общие требования к методам контроля
串行接口骨干系统电子模块 在终端模式下运行的串行接口的测试样品 控制的方法一般要求
现行
GOST R 51765-2001
Интерфейс магистральный последовательный системы электронных модулей. Тестирование опытных образцов интерфейсного модуля в режиме оконечного устройства. Общие требования к методам контроля
串行接口骨干系统电子模块 测试模块的终端模式的原型 控制的方法一般要求
现行
MIL MIL-T-85039
TEST SET, MISSILE INTERFACE (MITS) TS-3561 ( )/AWM-23(V)
测试装置 导弹接口(MITS)TS-3561()/AWM-23(V)
1976-05-19
现行
MIL MIL-T-85039 Notice 1-Inactivation
TEST SET, MISSILE INTERFACE (MITS) TS-3561 ( )/AWM-23(V)
导弹接口测试装置TS-3561()/AWM-23(V)
1997-04-30
现行
GOST R 52072-2003
Интерфейс магистральный последовательный системы электронных модулей. Тестирование компонентов физической среды. Общие требования к методам контроля
电子模块系统总线串行接口 物理介质生产单元测试计划 测试方法的一般要求
现行
MIL DSCC V62/03668
MICROCIRCUIT, DIGITAL, CMOS, EMBEDDED TEST-BUS CONTROLLER, IEEE STD 1149.1 (JTAG) TAP MASTERS WITH 8-BIT GENERIC HOST INTERFACES, MONOLITHIC SILICON
微电路、数字、CMOS、嵌入式测试总线控制器、IEEE STD 1149.1(JTAG)抽头主控器、8位通用主机接口、单片硅
2003-11-03
现行
BS EN IEC 61326-2-5-2021
Electrical equipment for measurement, control and laboratory use. EMC requirements-Particular requirements. Test configurations, operational conditions and performance criteria for field devices with field bus interfaces according to IEC 61784-1
测量、控制和实验室用电气设备 电磁兼容性要求
2021-06-10
现行
IEC 61326-2-5-2020
Electrical equipment for measurement, control and laboratory use - EMC requirements - Part 2-5: Particular requirements - Test configurations, operational conditions and performance criteria for field devices with field bus interfaces according to IEC 61784-1
用于测量 控制和实验室使用的电气设备 - Emc要求 - 第2-5部分:特殊要求 - 具有现场总线接口的现场设备的测试配置 操作条件和性能标准根据Iec 61784-1
2020-10-29
现行
IEC 61326-2-5-2020 RLV
Electrical equipment for measurement, control and laboratory use - EMC requirements - Part 2-5: Particular requirements - Test configurations, operational conditions and performance criteria for field devices with field bus interfaces according to IEC 61784-1
测量、控制和实验室用电气设备.电磁兼容性要求.第2-5部分:特殊要求.符合IEC 61784-1的带现场总线接口的现场设备的试验配置、操作条件和性能标准
2020-10-29
现行
GOST IEC 61326-2-5-2014
Электрическое оборудование для измерения, управления и лабораторного применения. Требования ЭМС. Часть 2-5. Дополнительные требования, испытательные конфигурации, рабочие условия и критерии качества функционирования для полевых устройств с интерфейсами полевой шины в соответствии с IEC 61784-1
用于测量 控制和实验室使用的电气设备 EMC要求 第2-5部分 根据IEC 61784-1的现场总线接口的现场设备的附加要求 测试配置 操作条件和性能标准
2014-10-20
现行
DIN IEC 61326-2-5-DRAFT
Draft Document - Electrical equipment for measurement, control and laboratory use - EMC requirements - Part 2-5: Particular requirements - Test configurations, operational conditions and performance criteria for field devices with field bus interfaces according to IEC 61784-1 (IEC 65A/567/CD:2010)
文件草案.测量 控制和实验室用电气设备.电磁兼容性要求.第2-5部分:特殊要求.符合IEC 61784-1(IEC 65A/567/CD:2010)的带有现场总线接口的现场设备的试验配置 操作条件和性能标准
2010-05-01
现行
DIN ETS 300374-9
Intelligent Network (IN) - Intelligent Network Capability Set 1 (CS1); Core Intelligent Network Application Protocol (INAP) - Part 9: Test Suite Structure and Test Purposes (TSS&TP) specification for the Service Control Function (SCF) to Service Switching Function (SSF) and the SCF to Specialized Resource Function (SRF) interfaces (Endorsement of the English version ETS 300374-9:1998 as German standard)
智能网络(IN)-智能网络能力集1(CS1);核心智能网应用协议(INAP).第9部分:服务控制功能(SCF)到服务交换功能(SSF)和服务控制功能(SCF)到专用设备的测试套件结构和测试目的(TSS&TP)规范
1999-09-01