ГОСТ 19656.16-86-半导体微波限幅二极管分解和泄漏功率的测量方法-国家数字标准馆

现行 ГОСТ 19656.16-86

到馆阅读

收藏跟踪

购买正版

Диоды полупроводниковые СВЧ ограничительные. Метод измерения пороговой и просачивающейся мощностей 半导体微波限幅二极管分解和泄漏功率的测量方法

实施日期： 1987-07-01

本标准适用于半导体二极管和限制微波测量方法设置阈值和泄漏功率在连续模式中

Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые ограничительные СВЧ диоды и устанавливает метод измерения пороговой и просачивающейся мощностей в непрерывном режиме

分类信息

发布单位或类别：俄罗斯-俄罗斯国家标准

CCS分类： L59电子元器件与信息技术 - 微电路 - 微型组件

ICS分类： 31.080.10半导体分立器件 - 二极管

关联关系

研制信息

相似标准/计划/法规

现行

GOST 19656.10-1988

Диоды полупроводниковые сверхвысокочастотные переключательные и ограничительные. Методы измерения сопротивлений потерь
半导体微波开关和限幅二极管测量损耗电阻的方法

现行

GOST 19656.9-1979

Диоды полупроводниковые СВЧ параметрические и умножительные. Методы измерения постоянной времени и предельной частоты
半导体微波可变电抗器和倍增二极管测量时间常数和限制频率的方法