GB/T 24582-2023-多晶硅表面金属杂质含量测定酸浸取-电感耦合等离子体质谱法-国家数字标准馆

现行 GB/T 24582-2023

到馆提醒

收藏跟踪

购买正版

选择购买版本本服务由中国标准服务网提供

电子版

中文(简体)/电子版加密PDF格式/约1分钟可下载/有水印/要装插件FileOpen/电脑需联网/限制累计3台电脑共打印5次

¥ 29

纸质版

中文(简体)/纸质版/约1个工作日发快递/无授权单位水印

¥ 29

前往中国标准服务网获取更多购买信息

多晶硅表面金属杂质含量测定酸浸取-电感耦合等离子体质谱法 Test method for measuring surface metal impurity content of polycrystalline silicon—Acid extraction-inductively coupled plasma mass spectrometry method

发布日期： 2023-08-06

实施日期： 2024-03-01

分类信息

发布单位或类别：中国-国家标准

CCS分类： H17冶金 - 金属化学分析方法 - 半金属及半导体材料分析方法

ICS分类： 77.040冶金 - 金属材料试验

关联关系

研制信息

归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会

起草单位：亚洲硅业（青海）股份有限公司、内蒙古通威高纯晶硅有限公司、宜昌南玻硅材料有限公司、青海芯测科技有限公司、江苏中能硅业科技发展有限公司、新疆大全新能源股份有限公司、陕西有色天宏瑞科硅材料有限责任公司、洛阳中硅高科技有限公司、新疆新特新能材料检测中心有限公司、有色金属技术经济研究院有限责任公司、江苏鑫华半导体科技股份有限公司、新疆协鑫新能源材料科技有限公司

起草人：尹东林、郑连基、刘军、魏东亮、蔡延国、李素青、侯海波、田洪先、刘文明、薛心禄、王彬、于生海、徐岩、曹岩德、姜士兵、邱艳梅、赵培芝、万首正、赵娟龙、申梅桂、刘海月、王春明

相似标准/计划/法规

现行

GB/T 31854-2015

光伏电池用硅材料中金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法
Test method for measuring metallic impurities content in silicon materials used for photovoltaic applications by inductively coupled plasma mass spectrometry

2015-07-03