首页 馆藏资源 舆情信息 标准服务 科研活动 关于我们
搜索
高级检索
批量检索
标准层级
全部
国家标准
行业标准
地方标准
团体标准
国际(区域)标准
国外国家标准
国际性专业标准
技术法规
国家
全部
中国(33)
标准组织
全部
国家标准(23)
团体标准(8)
有色金属(2)
发布年代
全部
2024(1)
2023(7)
2022(4)
2021(1)
2020(3)
2019(8)
2018(5)
2017(2)
2016(1)
2012(1)
标准状态
全部
现行(31)
被代替(2)
ICS
全部
03社会学、 服务、公司(企业)的组织和管理、行政、运输(1)
13环保、保健和安全(1)
27能源和热传导工程(2)
29电气工程(12)
65农业(1)
77冶金(16)
CCS
全部
A综合(1)
F能源、核技术(2)
G化工(2)
H冶金(23)
K电工(1)
P土木、建筑(2)
展开全部分类
  • 排序结果:
  • 相关性
  • 标准号
  • 发布时间
现行
Solar-grade polycrystalline silicon
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2017-11-01
被代替
GB/T 35306-2017
硅单晶中碳、氧含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法
Test method for carbon and oxygen content of single crystal silicon—Low temperature fourier transform infrared spectrometry
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2017-12-29
被代替
GB 29447-2012
多晶硅企业单位产品能源消耗限额
The norm of energy consumption per unit products of polysilicon enterprise
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2012-12-31
CCS分类:F01技术管理
现行
YS/T 1300-2019
氯硅烷中甲基二氯硅烷、三甲基氯硅烷、甲基三氯硅烷的测定 气相色谱质谱联用法
Determination of methyldichlorosilane,trimethylchlorosilane and methyltrichlorosilane in chlorosilanes-Gas chromatography-mass spectrometry method
发布单位或类别:行业标准-有色金属
发布日期: 2019-08-02
现行
Granular polysilicon produced by fluidized bed method
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2023-08-06
现行
GB/T 24581-2022
硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法
Test method for Ⅲ and Ⅴ impurities content in single crystal silicon—Low temperature FT-IR analysis method
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2022-03-09
现行
GB/T 37049-2018
电子级多晶硅中基体金属杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法
Test method for the content of metal impurity in electronic grade polysilicon—Inductively coupled-plasma mass spectrometry method
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2018-12-28
现行
Terminology of semiconductor materials
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2024-04-25
现行
Multicrystalline silicon wafers for photovoltaic solar cell
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2019-06-04
现行
Monocrystalline silicon for solar cell
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2018-09-17