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国家标准研制计划(1)

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20231789-T-339

半导体器件的机械标准化第6-20部分：表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则小外形J形引线封装（SOJ）尺寸测量方法

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Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 6-20: General rules for the preparation of outline drawings of surface mounted semiconductor device packages - Measuring methods for package dimensions of small outline J-lead packages （SOJ）

发布单位或类别：国家标准计划

下达日期： 2023-12-28

CCS分类：

ICS分类：31.200集成电路、微电子学

国家标准馆位于北京市海淀区知春路4号，可接待到馆读者，为读者提供标准文献检索、文献阅览、信息咨询、信息跟踪、信息推送等服务。

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开放时间：每周一至周五8:30-17:00（节假日不开放）

地　　址：北京市海淀区知春路4号

乘车线路：乘坐地铁10号线、昌平线，在西土城站下车D口出后西行150米即可到达。

赵老师电话：010-58811369 邮箱：zhaoping@cnis.ac.cn
刘老师电话：010-58811368 邮箱：liuyzh@cnis.ac.cn

《国家标准化发展纲要》提出建设国家数字标准馆，推动标准化工作向数字化、网络化、智能化转型。中国标准化研究院正在全力推进国家数字标准馆建设，力争在2026年底建成“一个中心”和“一个平台”，即全球领先的标准数据资源中心，涵盖标准全生命周期的数字化、网络化、智能化研究与服务平台。

出版物经营许可证：新出发京批字第直170229号

地址：北京市海淀区知春路4号

邮箱：service@cnis.ac.cn

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