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现行
SJ 21379-2018
电迁移效应测试方法
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Test method for electromigration effect
发布单位或类别：
行业标准-电子
发布日期：
2018-01-18
CCS分类：
ICS分类：
现行
SJ 21384-2018
氧化层可动电荷的电容-电压测试方法
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Test method of capacitance-voltage for mobile ion charge of oxides
发布单位或类别：
行业标准-电子
发布日期：
2018-01-18
CCS分类：
ICS分类：
现行
SJ 21383-2018
P-N结隔离测试方法
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Test method for P-N junction isolation
发布单位或类别：
行业标准-电子
发布日期：
2018-01-18
CCS分类：
ICS分类：
现行
SJ 21382-2018
离子注入均匀性测试方法
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Test method for the ion implantation uniformity
发布单位或类别：
行业标准-电子
发布日期：
2018-01-18
CCS分类：
ICS分类：
现行
SJ 21381-2018
时间相关介质击穿(TDD8)测试方法
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Test method for time dependent dielectric breakdown ( TDDB)
发布单位或类别：
行业标准-电子
发布日期：
2018-01-18
CCS分类：
ICS分类：
现行
SJ 21380-2018
热载流子效应测试方法
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Test method of hot carrier effect
发布单位或类别：
行业标准-电子
发布日期：
2018-01-18
CCS分类：
ICS分类：
正在批准
20213171-T-339
半导体器件 恒流电迁移试验
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Semiconductor devices – Constant current electromigration test
发布单位或类别：
国家标准计划
下达日期：
2021-08-24
CCS分类：
L55微电路综合
ICS分类：
31.080.01半导体器分立件综合
正在批准
20213170-T-339
半导体器件 金属氧化物半导体（MOS） 晶体管的热载流子试验
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Semiconductor devices - Hot carrier test on metal-oxide semiconductor(MOS) transistors
发布单位或类别：
国家标准计划
下达日期：
2021-08-24
CCS分类：
L55微电路综合
ICS分类：
31.080.01半导体器分立件综合
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国家标准馆位于北京市海淀区知春路4号，可接待到馆读者，为读者提供标准文献检索、文献阅览、信息咨询、信息跟踪、信息推送等服务。
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每周一至周五8:30-17:00（节假日不开放）
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北京市海淀区知春路4号
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