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现行
Technical specification for storage and conservation of strips by controlled atmosphere method
发布单位或类别:行业标准-烟草
发布日期: 2018-12-17
CCS分类:X89其他
现行
Specification for furniture logistics service
发布单位或类别:行业标准-物资
发布日期: 2018-07-16
现行
GB/T 23220.1-2023
烟叶储存保管方法 第1部分:原烟
Tobacco leaves storage and custody method—Part 1:Raw tobacco
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2023-08-06
CCS分类:X87烟草制品
现行
GB/T 23884-2021
动物源性饲料中生物胺的测定 高效液相色谱法
Determination of biogenic amines in animal-derived feeds—High performance liquid chromatography
发布单位或类别:国家标准
发布日期: 2021-10-11
ICS分类:65.120饲料
现行
YC/T 598-2023
烟叶醇化仓库基础环境参数监测指南
Monitoring guide for basic environmental parameters of tobacco aging warehouse
发布单位或类别:行业标准-烟草
发布日期: 2023-05-31
CCS分类:X87烟草制品
正在批准
20210839-T-339
半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFETs)的偏置温度不稳定性试验
Semiconductor devices - Bias temperature instability test for metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFETs)
发布单位或类别:国家标准计划
下达日期: 2021-04-30
CCS分类:L55微电路综合
正在批准
20213173-T-339
半导体器件 栅介质层的时间相关介电击穿(TDDB)试验
Semiconductor devices - Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
发布单位或类别:国家标准计划
下达日期: 2021-08-24
CCS分类:L55微电路综合
正在批准
Semiconductor devices – Constant current electromigration test
发布单位或类别:国家标准计划
下达日期: 2021-08-24
CCS分类:L55微电路综合
正在批准
20213174-T-339
半导体器件 内部金属层间的时间相关介电击穿(TDDB)试验
Semiconductor devices - Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
发布单位或类别:国家标准计划
下达日期: 2021-08-24
CCS分类:L55微电路综合
正在批准
20201545-T-339
半导体器件 机械和气候试验方法 第39 部分:半导体器件用有机材料的潮气扩散率和水溶解度测量
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 39: Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components
发布单位或类别:国家标准计划
下达日期: 2020-04-01